計數(shu)法(fa)是用直接(jie)(jie)統計不同粒(li)度顆粒(li)個(ge)數(shu)的方法(fa)確(que)定物(wu)料(liao)的粒(li)度組(zu)成，可分(fen)為間(jian)接(jie)(jie)法(fa)和(he)直接(jie)(jie)法(fa)兩(liang)類。

所謂間接法，是(shi)對顆(ke)粒的圖像進(jin)行測量(liang)和統計，故又稱為圖像法，包括從(cong)(cong)利用(yong)宏觀放大鏡和宏觀照相術到利用(yong)光學和電(dian)子顯微鏡以及電(dian)子探針測定，圖像與實物(wu)的比例從(cong)(cong)縮小100倍到放大105倍。

直接法(fa)(fa)(fa)是(shi)對實物(wu)顆(ke)粒(li)(li)進行直接測量和(he)統(tong)計(ji)，可(ke)進一步分為機械計(ji)數(shu)法(fa)(fa)(fa)和(he)場干擾(rao)法(fa)(fa)(fa)兩類(lei)(lei)。場干擾(rao)法(fa)(fa)(fa)的(de)(de)(de)基本原理(li)是(shi)利(li)用固體(ti)顆(ke)粒(li)(li)穿過某一物(wu)理(li)場時導致場強變化，借助于輸出的(de)(de)(de)脈沖訊號統(tong)計(ji)不同粒(li)(li)度顆(ke)粒(li)(li)的(de)(de)(de)數(shu)量，屬于這一類(lei)(lei)的(de)(de)(de)有一系列現代粒(li)(li)度檢測儀(yi)，如激光粒(li)(li)度測定儀(yi)和(he)庫爾特公司制造(zao)的(de)(de)(de)利(li)用電場干擾(rao)原理(li)設(she)計(ji)的(de)(de)(de)庫爾特計(ji)數(shu)儀(yi)。

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